Inhalt Die Vorlesung vermittelt weiterführende Kenntnisse über moderne Methoden der Festkörperanalytik, mit denen Funktionsmaterialien und Werkstoffe (auch zerstörungsfrei) hinsichtlich ihrer Struktur und chemischen Zusammensetzung charakterisiert werden können. Dabei sollen die verwendeten Charakterisierungsmethoden jeweils mit einer aktuellen materialwissenschaftlichen Fragestellung verknüpft werden. Grundlegende Konzepte Klassifizierung von Charakterisierungsmethoden nach Sonde bzw. Ww Aufbau spektroskopischer Experimente: Quelle, Monochromator, Detektor (Wdh.) Kombination von abbildenden Methoden mit Element- bzw. Strukturanalytik Rasterelektronenmikroskopie (SEM+EDX) wird am Beispiel einer Gefügeanalyse und für einen Schadensfall durch Spannungs-Riss-Korrosion diskutiert, Transmissions-elektronenmikroskopie (TEM+EELS) für die Anwendung in sog. de-alloyed Katalysatorsystemen. Eine Einführung in die Grundlagen der He-Ionen-Mikroskopie (HIM) mit Rückstreuanalytik wird am Beispiel der hochaufgelösten Abbildung von Nanostrukturen in Lithiumionenbatterien erfolgen. Tiefenprofilierung (teils zerstörungsfrei) Für die Messung von Tiefenprofilen werden Rutherford-Rückstreu-Spektrometrie (RBS), Glimmentladungspektroskopie (GDOS), Kernreaktionsanalyse (NRA) und Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) diskutiert werden. Praktische Anwendung finden diese Methoden z. B. in der Untersuchung von Verschleißschutzschichten auf Werkzeugen und medizinischen Implantaten. Schließen